HOME » EMI 시험의 로그 주기 안테나: 광대역·교정과 측정 조건

EMI 시험의 로그 주기 안테나: 광대역·교정과 측정 조건

로그 주기 다이폴 배열인 LPDA는 넓은 대역에서 사용할 수 있고 교정 가능한 수신 특성을 제공할 수 있어 EMI 시험에 유용합니다. 모든 모델이 200 MHz~18 GHz를 지원하거나 시험 시간을 85% 줄이지는 않습니다. 실제 모델, 구성과 측정 방법을 확인합니다.

LPDA의 동작 구조

다이폴 길이와 간격은 기하급수적 비율을 따르며 교대 급전이 배열 동작에 기여합니다. 주파수가 바뀌면 주로 작동하는 영역도 이동합니다.

넓은 구간에서 유사한 성질을 얻을 수 있지만 유한한 소자 수, 급전선과 발룬이 한계를 만듭니다. LPDA를 등각 나선 안테나와 같은 구조로 설명하지 않습니다.

바이코니컬과 로그 주기 부분을 결합한 하이브리드도 있습니다. 제품 외형이나 상표만으로 순수 LPDA인지 결정하지 않습니다.

방출 시험에서 얻는 이점

적절한 대역을 갖추면 안테나를 바꾸는 횟수를 줄일 수 있습니다. 그러나 수신기 측정 시간, 검파기, 대역폭, 편파와 최대값 탐색 절차는 여전히 필요합니다.

안테나는 대역 내 여러 신호를 받을 수 있지만 수신기가 동시에 획득하는지 순차 스캔하는지는 별도 문제입니다. 시간에 따라 변하는 클록에는 그에 맞는 획득 방법을 사용합니다.

안테나 계수와 교정된 경로

안테나 계수 AF는 교정 조건에서 입사 전계와 수신 전압을 연결합니다. 흔히 E = V + AF + Lcable − Gpreamp로 계산하며, 단위는 각각 dBµV/m, dBµV, dB/m 및 손실·이득의 dB입니다.

가상의 예로 V = 40 dBµV, AF = 20 dB/m, 케이블 손실 2 dB와 전치 증폭기 이득 10 dB이면 52 dBµV/m입니다. 수신기나 교정표에 이미 반영된 보정을 다시 더하지 않습니다.

측정 주파수의 자료와 적합한 임피던스, 기하와 기준을 사용합니다. dBi 이득, 안테나 계수와 수신기 평탄도는 서로 다른 양입니다.

편파·높이·시험장

보통의 LPDA는 다이폴 방향에 따라 선형 편파를 가집니다. 시험 방법이 요구하면 양 편파와 높이, 회전 방향을 바꾸어 최대 응답을 찾습니다.

바닥, 지지대, 케이블과 주변 물체가 측정을 바꿉니다. 지향성 안테나가 시험장 반사를 모두 없애거나 고정된 다중경로 억압을 보장하지는 않습니다.

위상 중심도 주파수에 따라 이동할 수 있습니다. 짧은 거리에서 긴 안테나를 쓸 때는 교정 기하와 실제 시험 기하를 특히 확인합니다.

방출과 내성 시험의 구별

방출 시험은 장비가 만든 전계를 측정하며, 방사 내성 시험은 정한 전계를 인가하고 장비 동작을 관찰합니다. 10 V/m는 전계 수준이지 균일성 전체를 나타내는 수치가 아닙니다.

송신에는 허용 전력, 정합과 RF 경로가 필요합니다. 수신용 교정이 있다는 사실만으로 보유 증폭기로 필요한 시험장을 만들 수 있다는 뜻은 아닙니다.

다른 안테나와 비교

바이코니컬, LPDA와 혼은 서로 다른 영역과 목적에 쓰일 수 있으며 일부 대역은 겹칩니다. 리지드 혼 중에도 광대역 설계가 있으므로 모든 혼을 협대역으로 취급하지 않습니다.

같은 조건에서 교정 대역, AF, 패턴, 치수, 정합과 전력을 봅니다. 모델과 시험 없는 ±0.8 dB 대 ±2.5 dB 비교는 일반 규칙이 아닙니다.

실무 확인 순서

  1. 대역, 시험 종류와 적용 방법을 정합니다.
  2. 안테나 교정 및 불확도를 확인합니다.
  3. 케이블과 증폭기 보정을 한 번만 적용합니다.
  4. 잡음 바닥, 포화와 동적 범위를 확인합니다.
  5. 요구된 탐색 및 최종 측정을 수행합니다.
  6. 배치, 방향과 결과를 보존합니다.

LPDA 구조와 장 영역은 원리와 기하를 이해하는 자료입니다. 특정 표준의 교정 인증이나 실제 시험 방법을 대신하는 문서는 아닙니다.

latest news
Scroll to Top
Blank Form (#3)