근거리장과 원거리장 EMI는 거리 조건, E/H 관계, 공간 변화와 측정 목적에서 차이가 납니다. 근거리 프로브는 방해원의 위치를 찾는 도구이며 전체 장치의 규정 방사 측정을 자동으로 대신하지 않습니다.
1. 경계는 소스와 형상에 따른다
전기적으로 작은 소스에서는 λ/(2π)를 반응성 근거리 영역의 크기 기준으로 자주 사용합니다. 1 GHz에서 약 4.77 cm입니다. 그 밖의 모든 위치가 이미 완전한 원거리장이라는 뜻은 아닙니다.
전기적으로 큰 개구에는 방사 근거리 영역이 따로 존재할 수 있습니다. 자주 쓰는 2D²/λ 항은 관련 최대 치수 D를 반영하지만, 파장·거리·측정 형상과 정확도 목표도 확인해야 합니다.
D = 0.60 m, 12 GHz이면 이 항은 약 28.8 m입니다. 규정 시험은 별도의 거리와 방법을 지정할 수도 있습니다. 물리적 장 구분과 시험 절차를 구별합니다.
2. 근거리의 E/H는 고정되지 않는다
전기장 E와 자기장 H의 관계는 소스 종류와 위치에 따라 크게 달라집니다. 전류 루프와 높은 임피던스의 도체 구조에서는 다른 결합이 우세할 수 있습니다.
자유공간의 국소 평면파 원거리장에서는 E/H ≈ 377 Ω입니다. 근거리에서 E 한 값만 측정한 뒤 377 Ω으로 나누어 항상 H를 구할 수는 없습니다.
H 프로브는 30 MHz 이하로만 제한되지 않습니다. 루프 크기, 구조, 교정과 수신기가 실제 주파수 범위를 결정합니다.
3. 감쇠를 E와 H에 단순 배정하지 않는다
기본 소스의 장에는 성분에 따라 1/r, 1/r²와 1/r³ 항이 포함됩니다. 우세한 항은 방향과 거리에 따라 달라지므로 E는 항상 1/r², H는 항상 1/r³이라고 할 수 없습니다.
국소 소스에서 나가는 이상적인 원거리파의 장 진폭은 약 1/r, 전력 밀도는 1/r²로 감소합니다. 장 진폭에 20 log, 전력 밀도에 10 log를 적용하면 둘 다 거리 10배에 약 −20 dB가 됩니다.
반사, 외함과 케이블은 실제 변화를 바꿉니다. PCB 근처에서 높이를 두 배로 했다고 항상 일정한 dB를 더해 원래 장으로 역산하지 않습니다.
4. 국소 진단과 전체 방사 시험
근거리 스캔에서는 스위칭 노드, 전류 루프, 틈과 케이블 결합을 찾습니다. 작은 프로브는 더 국소적인 탐색에 도움이 되지만 자체 감도와 방향성이 있습니다.
전체 방사 시험은 장소, 검출기, 대역폭, 거리와 작동 상태를 정해 평가합니다. 작은 국소 핫스폿이 항상 가장 강한 원거리 방사원은 아닙니다. 연결된 케이블이 효과적인 방사체가 될 수 있습니다.
CE는 하나의 측정 표준이 아니며 FCC 요구도 장치와 적용 규정에 따릅니다. 해당 시험 방법을 사용합니다.
재현 가능한 근거리 비교
- 회로 작동 상태, 클록과 부하를 고정합니다.
- 프로브, 방향, 높이와 격자를 기록합니다.
- 수신 대역폭, 검출기와 이득을 유지합니다.
- 포화와 측정 케이블 결합을 확인합니다.
- 한 가지 변경 후 같은 위치를 다시 측정합니다.
- 전체 시스템에서 효과를 확인합니다.
적절한 프로브 계수가 없으면 dBm 수신값이 곧 dBµV/m나 dBµA/m가 되지 않습니다. 조건을 통제한 상대 비교는 그래도 유용할 수 있습니다.
보고서와 해석
사진, 거리, 주파수와 장치 상태를 보관합니다. 국소 레벨 감소와 완제품의 규정 적합을 구분하십시오.
장 영역의 설명에서 형상 조건을 확인할 수 있습니다. 측정 선택은 단순히 가까운지 먼지가 아니라 방해 문제와 검증 목표에 따라 결정합니다.
